仪器应用：
主要用于材料成分半定量分析、材料ROHS检测、卤素检测、新材料反向研发。
仪器原理：
通过高压产生电子流打到X光管的靶材上产生初级X射线，初级X射线经过过滤和聚焦照射到样品上产生各元素的特征X射线（即X荧光），X荧光经过探测后经过计算机运算后，可以计算出样品中各种元素的含量。